详细摘要： 产品信息 特点 使用了型高感度APD，感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性相转移温度 可测量0～90℃大范围内的温度 追加了大范围的分...
产品型号：所在地：苏州市更新时间：2024-01-09 在线留言大塚电子（苏州）有限公司
大塚电子（苏州）有限公司
详细摘要： 产品信息 特点 使用了型高感度APD，感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性相转移温度 可测量0～90℃大范围内的温度 追加了大范围的分...
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详细摘要： 本产品为粒径及zeta电位测量专用装置。ELSZneoSE选择了ELSZneo的新功能。 根据用途，可以根据需要定制任意数量的必要功能。...
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详细摘要： 【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potenti...
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详细摘要： 【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potenti...
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详细摘要： 以非接触方式测量晶圆等的研磨和抛光工艺，超高速、实时、高精度测量晶圆和树脂 产品详细信息 特点 非接触式，非破坏性厚度测量 反射光学系统（可从一侧接触测量） 高...
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详细摘要： 特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐...
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详细摘要： ●非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ●OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、反射率的新型高精度、高性价比...
产品型号：所在地：苏州市更新时间：2024-01-09 在线留言
详细摘要： 本公司的MCPD series，由于采用柔软纤维的事，从In-Situ到内联各种各样的地方和用途的编入成为可能。测量原理为分光干涉方式，在实现高测量再现性的同时...
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详细摘要： 产品信息 特 点 可测从0nm开始的低（残留）相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) （相当于快速的0.1秒以下来处理） 无驱动部，重复再现性高 设置的...
产品型号：所在地：更新时间：2023-06-10 在线留言
详细摘要： 产品信息 特 点 可测从0nm开始的低（残留）相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) （相当于快速的0.1秒以下来处理） 无驱动部，重复再现性高 设置的...
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详细摘要： 产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line...
产品型号：所在地：更新时间：2023-06-09 在线留言
详细摘要： 产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置 可用于彩色滤光片的光学特性或玻...
产品型号：所在地：更新时间：2023-06-08 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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