详细摘要： 【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potenti...
产品型号：所在地：苏州市更新时间：2024-02-01 在线留言大塚电子（苏州）有限公司
大塚电子（苏州）有限公司
详细摘要： 【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potenti...
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详细摘要： 本产品为粒径及zeta电位测量专用装置。ELSZneoSE选择了ELSZneo的新功能。 根据用途，可以根据需要定制任意数量的必要功能。...
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详细摘要： ● nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实...
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详细摘要： 产品信息 特点 nanoSAQLA 的特点 1个单元可轻松连续测量5个样品 实现了 在没有自动进样器的情况下难以 实现的 多个样品的 连续测量， 也可以通过改变...
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详细摘要： ●可测量稀薄溶液~浓厚溶液的ZETA电位和粒径，并可进行分子量测量的检测装置。●适用于粒径测量范围（0.6nm~10um）,浓度范围（0.00001%~40%）...
产品型号：所在地：苏州市更新时间：2024-01-09 在线留言
详细摘要： ●非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ●OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、反射率的新型高精度、高性价比...
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详细摘要： 产品信息 特 长 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪 藉由反射率光谱分析膜厚 完整继承FE-3000机种90%的强大功能 无...
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详细摘要： 产品信息 特 点 采用分光干涉法 搭载高精度FFT膜厚解析系统（ 第4834847号） 使用光学光纤，可灵活构筑测量系统 可嵌入至各种制造设备。 实时测量膜厚 ...
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详细摘要： 产品信息 特点 可在紫外和可见（250至800nm）波长区域中测量椭圆参数 可分析纳米级多层薄膜的厚度 可以通过超过400ch的多通道光谱快速测量Ellipso...
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详细摘要： 即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学式膜厚检测 采用分光干涉法实现高度检...
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详细摘要： 产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用途提出的方案。 不同评价方法对...
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详细摘要： 产品信息 特点 可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量 测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准 采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量 测量...
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详细摘要： 产品信息 特征 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光的宽波长范围 带软...
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详细摘要： 产品信息 特征 具有高灵敏度检测器的宽测量范围 具有紫外线自吸收校正的高精度测量 配备温度控制单元，可从-110C进行温度控制 涵盖从紫外线到可见光的波长范围 ...
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详细摘要： 产品信息 特征 通过分光光度分布对紫外光进行高精度测量 从配光上评估紫外光的发光强度、光束开度、光束光通量 涵盖从紫外线到可见光的波长范围 支持从 LED 芯片...
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详细摘要： 特点： 采用具有高亮度和色度精度的光谱方法（衍射光栅）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可测量， 对应CIE推荐的...
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详细摘要： 产品信息 特 点 与产线的控制信号同步 通过光纤的自由的测试系统 实现最短2ms～的光谱测量（LE-5400） 同以往的产品相比，测量?演算?评价1个周期有可到...
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详细摘要： 产品信息 特 点 测量精度高 可瞬间测量量子效率（量子收率） 可去除再激励荧光发光 采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系 采用了低迷光多通道分光检出器，大...
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详细摘要： 产品信息 特殊长度 可以测量0.01%或更低的单线态氧的产生量子产率。 单线态氧 (1270 nm) 的简单直接光谱观察 可在用于生物应用等的水性溶剂中测量。 ...
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详细摘要： PP-1000小角激光散射仪，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，简称SALS），可以对高分子材料和薄膜进行原位检测，...
产品型号：所在地：苏州市更新时间：2024-01-09 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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