大塚电子（苏州）有限公司
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产品信息 特 点 可测从0nm开始的低（残留）相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) （相当于快速的0.1秒以下来处理） 无驱动部，重复再现性高 设置的测量项目少，测量简单...
产品信息
特 点
• 可测从0nm开始的低（残留）相位差
• 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
（相当于快速的0.1秒以下来处理）
• 无驱动部，重复再现性高
• 设置的测量项目少，测量简单
• 测量波长除了550nm以外，还有各种波长
• Rth测量、角测量
（需要option的自动旋转倾斜治具
• 通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性
(本系统属特注。）
测量项目
• 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
• 主轴方位角（θ[deg.]）
• 椭圆率（ε）・方位角（γ）
• 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
• 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
• 树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等）
原 理
• 什么是RE-200
• RE-200是光子结晶素子（偏光素子）、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合，可高速且高精度的测量位相差（相位差）、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式，没有偏光子旋转的机构，系统整体上是属于小型构造，长时间使用也能维持稳定的性能。
仕 样
| 型号 | RE series |
|---|---|
| 样品尺寸 | 最小10×10mm ～100×100mm |
| 测量波长 | 550nm （标准仕样）※1 |
| 相位差测量范围 | 约0nm ～约1μm |
| 轴检出重复精度 | 0.05°（at 3σ） ※2 |
| 检出器 | 偏光计测模块 |
| 测量光斑直径 | 2.2mm×2.2mm |
| 光源 | 100W 卤素灯或 LED光源 |
| 本体・重量 | 300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、约20kg |
Option
• Rth测量、角测量※治具本体（旋转：180°, 倾斜：±50°）
• 动旋转倾斜治具
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