产品展示
【简单介绍】
【详细说明】
x-ray膜厚仪技术指标:
★ 型号:BOWMAN_BA 100
★ 元素分析范围:从AL到U
★ 一次性可同时分析多层镀层
★ 分析厚度检测出限zui高达0.01um
★ 同时可分析多达5层以上镀层
★ 相互独立的基体效应校正模型,厚度分析方法
★ 多次测量重复性zui高可达0.01um
★ *工作稳定性小于0.1um(5um左右单镀层样品)
★ 温度适应范围:15℃~30℃
★ 输出电压220±5V/50HZ(建议配置交流净化稳压电源)
x-ray膜厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器,这种测量方法可以实现连续的实时在线测量。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。
无论是汽车部件、卫浴器具,还是半导体支架、接插端子、金银首饰,美国bowman公司都一一有理想的仪器去进行测量。美国bowman提供的都是高效率、低成本的测量仪器,它广泛应用于各类电镀工件的镀层测厚及贵重首饰的成色分析,简单易用,维护方便,是节省生产成本的好帮手。
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