产品展示
【简单介绍】
【详细说明】
x-ray膜厚测试仪1.可测:单层,双层,多层,合金镀层,
2.测量范围:0.04-35um
3.测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
4.全自动台面:操作非常方便简单
5.可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。
6.可测元素范围:钛(Ti)– 铀(U) 原子序 22 –92
7.准直器:固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
8.自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
9.电脑系统:DELL品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机
x-ray膜厚测试仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器,这种测量方法可以实现连续的实时在线测量。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。
无论是汽车部件、卫浴器具,还是半导体支架、接插端子、金银首饰,美国bowman公司都一一有理想的仪器去进行测量。美国bowman提供的都是高效率、低成本的测量仪器,它广泛应用于各类电镀工件的镀层测厚及贵重首饰的成色分析,简单易用,维护方便,是节省生产成本的好帮手。
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