产品展示
【简单介绍】
【详细说明】
x荧光膜厚测试仪1.用*的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大。
2.可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上。
3.拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。
4.能够检测各种大小的样品,满足镀层厚度测量和材料分析。
5.新型号设计,快速分析(几秒)1-4层镀层厚度。
6.多款规格,例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台。
7.满足所有样品类型,开槽式样品舱可检测大面积样品,例如印制线路板等。
8.符合ISO3487和ASTM B568检测方法
x荧光膜厚测试仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器,这种测量方法可以实现连续的实时在线测量。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。
无论是汽车部件、卫浴器具,还是半导体支架、接插端子、金银首饰,美国bowman公司都一一有理想的仪器去进行测量。美国bowman提供的都是高效率、低成本的测量仪器,它广泛应用于各类电镀工件的镀层测厚及贵重首饰的成色分析,简单易用,维护方便,是节省生产成本的好帮手。
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