详细摘要： 离子研磨仪 IM4000II
产品型号：所在地：上海市更新时间：2023-09-28 在线留言柯岷国际贸易（上海）有限公司
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详细摘要： 专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，...
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详细摘要： 以创新的操作性，满足广泛领域的需求。新一代TEM"RuliTEM"诞生。"RuliTEM"120 kV透射电子显微镜系列，包含配备高衬度透镜，实现大视野、高对比...
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详细摘要： 200 kV相差校正TEMTEM，平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能。通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。透射电子显...
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详细摘要： 该导航系统可以将CAD数据的布线和大规模集成电路的设计图形和FIB的观察图像相对应起来。当CAD系统中的坐标位置，样品台就会通过链接移动到相应位置，就可以获得相...
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详细摘要： 微型采样方法(已在日本和美国取得zhuanli)已在半导体器件分析领域成为一款工具，它正迅速向更小制样方向发展。仅用一小时左右即可获得一个微小样品，以便于STE...
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详细摘要： MI4050是具有以下特征的高性能聚焦离子束系统：新型电子光学系统，可达到高水准的SIM像分辨率・大束流使加工速度得以提升・提高了低加速电压的分辨率，使得高品质...
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详细摘要： 在设备及高性能纳米材料的评价和分析领域，FIB-SEM已成为的工具。近来，目标观察物更趋微细化；更薄，更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。日立高新公司，整合了高...
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详细摘要： 通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察，采集一系列连续截面图像，并重构特定微区的三维结构。采用的镜筒布局，从*材料、*设备到生物组织——在宽广的领域范围...
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详细摘要： “Ethos"采用日立高新的核心技术--的高亮度冷场发射电子枪及新研发的电磁复合透镜，不但可以在低加速电压下实现高分辨观察，还可以在FIB加工时实现实时观察。S...
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详细摘要： AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发...
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详细摘要： AFM5300E是一款环境型原子力显微镜，它的环境控制单元可以使样品在大气中、真空中、溶液中等环境中进行测量。AFM5300E还具有高低温控制功能，可以检测温度...
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详细摘要： AFM5100N除了激光检测方式之外，全新的「自检测悬臂」，在保证高分辨表面形貌观察的同时，大大简化了AFM悬臂操作。
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详细摘要： AFM5000Ⅱ工作站采用全新的图标用户界面，标准配备参数自动设置功能(RealTune® II)，即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到全新的样品时，也...
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