上海优特化工有限公司
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产品简介UTX620是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪，适用于：1、尺寸较大的五金、接插件、电气连接器电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀；2、尺寸较大、含量普通的合金材料分析；3、镀液分析
产品简介
UTX620是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪，适用于：
1、尺寸较大的五金、接插件、电气连接器电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀；
2、尺寸较大、含量普通的合金材料分析；
3、镀液分析。
产品特点
1、从K到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测
2、检测灵敏度0.01%到99%；镀层0.03um到35um
3、测量时间短，每个测量只需10-60秒
4、15-20倍彩色CCD系统用于样品图像观察
5、有多种形状和多种规格的准直器可供选用
6、大窗口正比计数器，提高测量稳定性
7、机械结构简单，可靠
8、FP基本算法软件
9、灵活的应用分析软件
10、仪器安装简单、快速
技术指标
| 高压发生器 | |
| 输入电压 | 24VDC±10% |
| 输出电压 | 0-50kV |
| 输出电流 | 0-2.0mA |
| 输出精度 | 0.01% |
| 备注 | 有自动软件侦测功能 |
| X射线管 | |
| X射线管靶材 | W靶、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选 |
| X射线管窗口 | 尼龙窗 |
| 电气参数 | 50W、4-50kV，0-1000uA |
| 冷确方式 | 硅脂冷却 |
| 使用寿命 | 15000-20000h |
| 探测器 | |
| 检测范围 | K19-U92 |
| 分辨率 | FWHM<760eV |
| 探测窗口 | 铍窗，窗口面积：400mm2 |
| 镀层测厚指标 | |
| 分析范围 | 0.01um—35um |
| 层精密度/准确度 | 相对标准差5%以下（厚度大于0.5um时） |
| 第二层精密度/准确度 | 相对标准差10%以下（厚度大于0.5um时） |
| 谱处理系统 | |
| 处理器类型 | 全数字化32-bit3 DSP |
| 谱通道数 | 256，512，1024，2048可供选择 |
| 计数率 | 大于100000cps |
| 能量范围 | 1400eV-40960eV |
| 死时间 | <3% |
| 光路系统和样品观测 | |
| 准直器系统 | 单一准直器φ0.2mm |
| 对焦系统 | 激光激光对焦 |
| 滤光器 | 多种滤光器(Ni、Cu、Mo、Al、Ti)可供选择 |
| 样品观察系统 | 300万象素高清CCD摄像头，20倍光学变焦。 |
| 样品室 | |
| 样品室内部空间（mm） | （宽×高×深）：450×160×400mm |
| 样品台尺寸 | （宽×深）：250×275mm |
| 样品台承载重量 | ≤5kg |
| 试验样品尺寸 | 宽×高×深：440×150×390mm。 |
| 样品台控制方式 | 简易手动样品台 |
| 工作台移动技术数据 | X=200±5、Y=200±5、Z=160±5mm |
| 工作台移动精度 | 0.02mm |
| 计算机和软件 | |
| 控制计算机 | 联想品牌机T4900V，512MB内存，80G硬盘 |
| 显示器 | 联想17寸LCD显示器 |
| 操作系统 | WindowsXP、OEM简体中文版 |
| 报告结果 | Word、Excel格式 |
| 软件 | 镀层测厚软件、元素分析软件 |
| 软件类型 | FP基本参数法软件 |
| 软件语言 | 简体中文、繁体中文、英文、其它 |
| 谱显示 | 自动峰定性，KLM标记，谱重迭比较 |
| 谱处理 | 总强度，净强度，背景强度；全面积，净面积，多元素拟合，高斯拟合；倒数谱 |
| 资料分析 | 基本参数，基本谱图，无标样测试，峰位修正，底材修正 |
| 重量和尺寸 | |
| 设备主体尺寸（mm） | 宽×高×深：W 580×H 600×D 715mm |
| 主体重量 | 约60kg |
| 使用环境 | |
| 工作环境 | 温度15-250C，湿度40-70%RH |
| 电源系统 | 单相220V±10%，工作电压在充许范围内 |
| 其它 | 1. 不要靠近产生强磁场，电场，高频等装置 2. 减少振动 3. 粉尘少，湿度低，无腐蚀性气体 4. 日光不能直射 5. 作为地震的对策，要考虑装置的固定 |
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