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XCT-210涂层测厚仪

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产品型号XCT-210

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厂商性质其他

所在地厦门市

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更新时间：2025-04-05 10:46:17浏览次数：25次

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产品简介

全中文界面操作，更方便

详细介绍

全中文界面操作，更方便；
本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法
可配7 种测头F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1
可存贮495 个测量值；
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析；
LCD液晶显示，可开关背光控制；
具有菜单操作；
具有与PC 机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC 机，以便对数据进行进一步处理；
具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示；
设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式。
采用2节5号电池设计，更换方便简单；
采用国际9芯插座；

标准USB接口，可通过软件与上位机通讯

† 技术参数：
测量原理：       磁感应和电涡流
探头连接方式：   分体式导线连接（可更换）
温湿度：         0-40℃ 20%RH～90%RH
统计功能：       平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）
工作方式：       直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式：       连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置：     有
存储能力：       495 个测量值
连接计算机：     能连接电脑
关机方式：       手动和自动
电源：          AA（5号）电池

† 选装配置：
各型探头：
F400、F1/90°、F10、CN02。

† 标准配置：
涂层测厚仪主机；
F1头或N1头；
标准片一套：
50um 100um 200um 500um 1000um；
铁基体或铝基体；
两节AA（5号）电池；
通讯线及数据处理软件。

♥本仪器符合以下标准：GB/T 4956-1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量，磁性方法；GB/T 4957-1985非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量，涡流方法。JB/T 8393-1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG 889-95《磁阻法测厚仪》 JJG818-93《电涡流式测厚仪》

†涂层测厚仪可选探头参数表

测头型号		F400	F1	F1/90	F10	N1	CN02
工作原理		磁感应				电涡流
测量范围（um）		0-400	0-1250		0-10000	0-1250(铜上镀铬0-40um)	10-200
低限分辨力(um)		0.1	0.1		10	0.1	1
示值误差	一点校准(um)	±[3%H+1]			±[3%H+10]	±[3%H+1.5]	±[3%H+1]
示值误差	两点校准(um)	±[(1～3)%H+0.7]	±[(1～3)%H+1]		±[(1～3)%H+10]	±[(1～3)%H+1.5]	-
测量条件	*小曲率半径(mm)	凸 1	凸1.5	平直	10	3	平直
	基体*小面积的直径(mm)	ф3	ф7	ф7	ф40	ф5	ф7
	*小临界厚度(mm)	0.2	0.5	0.5	2	0.3	无限制

† 涂层测厚仪探头选择表

覆盖层基体		有机材料等非磁性覆盖层 (如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)			非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)
覆盖层基体		覆盖层厚度不超过100µm	覆盖层厚度超过100µm	覆盖层厚度不超过100µm	覆盖层厚度超过100µm
铁、钢等磁性金属	被测面积的直径大于30mm	F400 型测头 0～400µm F1 型测头 0～1250µm	F1 型测头 0～1250µm F10 型测头 0～10mm	F400 型测头 0～400µm F1 型测头 0～1250µm	F1 型测头 0～1250µm F10 型测头 0～10mm
铁、钢等磁性金属	被测面积的直径小于30mm	F400 型测头 0～400µm	F400 型测头 0～400µm F1 型测头 0～1250µm	F400 型测头 0～400µm	F400 型测头 0～400µm F1 型测头 0～1250µm
铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属	被测面积的直径大于5mm	N1 型测头 0～1250µm			仅用于铜上镀铬N1 型测头 0～40µm
塑料、印刷线路非金属基体	被测面积的直径大于7mm	-			CN02 型测头10～200µm