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仪器用途:倒置型LWD200-4XI金相显微镜适用于金相学、冶金学专业实验室的研究
仪器用途: 倒置型 LWD200-4XI 金相显微镜适用于金相学、冶金学专业实验室的研究。并广泛应用于集成电路IC行业、电子半导体业。也可用于鉴别和分析各种金属和合金的组织结构,可广泛地应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定,原材料的检验或对材料处理后金相的研究分析等工作。本仪器可配用摄影装置进行显微摄影。 主要技术参数: 1.单目镜筒:倾斜60 °,瞳距55mm-75mm 视度±5° 2.平场目镜:10X/18mm、12.5X/15mm , 带0.1mm刻度十字分划板目镜WF10X 3.消色差物镜:4X、10X、、100X(S、O) 金相平场消色差物镜:40X(S) 4.总放大倍数:40X-1250X 5.载物台:尺寸200mm*180mm 带两块载物盘Ø10和Ø20mm, 移动范围 70*50mm 6.调 焦 :粗微动同轴 升降范围25mm 微动格值0.002mm,手轮松紧可调节 7.聚焦镜:柯勒照明 ,滤色片(带蓝、绿、黄三块滤色片) 8.光 源:可调卤素灯 6V20W |
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