北京凯普海泰科技有限公司
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X射线镀层测厚仪 AXIOM镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在极少甚至无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的21Ti到92U 。X射线镀层测厚仪 AXIOM配备超高分辨率的探测器，是检测超薄镀层和痕量级元素成分的理想仪器。
AXIOM系列
适用于：|电子和电器|PCB|连接器|珠宝|电镀液分析|紧固件|硬件|
AXIOM镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在极少甚至无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的21Ti到92U 。
AXIOM配备超高分辨率的探测器，是检测超薄镀层和痕量级元素成分的理想仪器。
一、功能：
1、性能及符合性：
通过PTB认证，符合*高辐射安全标准
检测方法通过ISO 3497，ASTM B568，DIN 50987和IEC 62321等认证
开槽式大样品台
可编程的XY样品台
样品腔体积（宽/深/高）：600 X 500 X 172.5mm（W X D X H）
特殊的防撞设计
2、可编程的样品台
预定位激光技术
*大化样品台行程范围及速度
自动测量
3、软件及校准
基于WINDOWS 10操作系统
选择经验校准以实现*大准确性或选择FP无标样模式以轻松
成分分析：可自由选择元素，同时实现多于20种元素的定量分析
厚度测量：可自定义镀层结构，*多同时测定5层
二、特点
采用微聚焦硼窗X射线光管，实现高精度、高可靠性，测量时间短、
使用寿命长、购置成本低
采用高分辨SDD探测器，提供能量级别的*佳效率，
极低的检出限(LOD)
多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额，提高测量效率
开槽式超大样品舱设计，十分适合标准及超大样品
“USB接口"只需通过USB与计算机连接，无需额外硬件。
，符合*高工程标准
坚固耐用的设计可实现长期可靠性
通过PTB认证，满足*高辐射安全标准
三、操作步骤
1、将样品放在大样品台上
无损分析：无需样品制备
样品易定位，大舱门和开槽设计有利于大型平板样品
操作安全
侧窗式：更易观察到样品
2、选择样品测量点
精准的测量点定位—高分辨率和高放大倍率的彩色影像装置
操纵杆或鼠标控制实现快速简便的样品定位
以客户定制的分析模式完成单点或多点分析
3、结果报告
高清彩**像，易于识别
测试结果一键导出到Word，Excel，HTML和PDF格式
客户定制的报告，简单，灵活
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