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nanome|x

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更新时间：2024-03-07 18:46:54浏览次数：37次

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英华检测（上海）有限公司

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产品简介

phoenixnanome|x——超高分辨率的纳米焦点X射线检测系统，设计用于检测半导体及SMT行业的高品质的组件和互连该系统具有良好的性能和多功能性，可用于二维X射线检测，以及全三维计算机断层扫描(nanoct)

详细介绍

phoenix nanome|x

—— 超高分辨率的纳米焦点X射线检测系统，设计用于检测半导体及SMT行业的高品质的组件和互连

该系统具有良好的性能和多功能性，可用于二维X射线检测，以及全三维计算机断层扫描(nano ct)。有了新的 x|act 软件包， phoenix nanome|x是可选的系统，用以确保满足目前和未来的要求。

特色

主要功能

通过双向检波器技术（数字图像链与有效的温度稳定的30帧每秒的数字探测器）获取的清晰的活动影像
高放大倍率
熟练的操作
高度的可再现性
180千伏/ 15 W高功率开放纳米焦点管具有高达200纳米的细节探测能力
可升级到 nanoCTÒ
可选：
- x|act 软件包用于方便快捷的基于CAD的高分辨率自动X射线检测(?AXI），以达到的缺陷覆盖率，具有高放大倍率和可再现性
- 通过高动态温度稳定的DXR数字探测器与主动冷却获取的30 FPS（帧每秒）的清晰的活动检测影像
- 10秒内的三维计算机断层扫描
- 通过菱形|窗口以同样的高图像质量水平进行快达2倍的数据采集