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XAU-4CS光谱分析仪测量面积:最小0.03mm²
性能优势: 1.微小样品检测:最小测量面积0.03mm²(加长测量时间可小至0.01mm²) 2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm 3.的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元 素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。 4.的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限。 5.高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积25mm²探测器。 6.X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置。 测厚仪的光路交换装置,让X射线和可见光摄像同一垂直线,达到视觉与测试定位一体,且X光扩散度小;与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能,实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试;高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍,可以减少弧度倾斜放样带来的误差,同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。 的EFP算法 专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。 RoHS检测及标定 XAU-4CS光谱分析仪
测量面积:最小0.03mm²;电镀层分析:23层镀层24种元素;仪器特点:RoHS卤素有害元素;仪器优势:同元素不同层分析
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