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FSM薄膜应力仪，应力检测仪，超高温下测量薄膜应力

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产品简介

产品简介：美国FrontierSemiconductor(FSM)成立于1988年

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产品简介：

美国Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年，总部位于圣何塞，多年来为半导体行业等高新行业提供各式精密的测量设备，客户遍布, 主要产品包括:光学测量设备: 三维轮廓仪、拉曼光谱、薄膜应力测量设备、红外干涉厚度测量设备、电学测量设备:高温四探针测量设备、非接触式片电阻及漏电流测量设备、金属污染分析、等效氧化层厚度分析 (EOT)