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9J-V图像光切法显微镜

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更新时间：2024-01-19 11:48:01浏览次数：40次

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产品简介

一、用途：本仪器是以光切法测量零件加工表面的微观不平度

详细介绍

一、用途：
    本仪器是以光切法测量零件加工表面的微观不平度。适用于测量1.0～80微米即原标准▽3-▽9级表面光洁度。对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。
    光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。
二、仪器的成套性：
1．仪器本体                  1台
2．测微目镜                  1只
3．坐标工作台               1件
4．V 型块                      1件
5．标准刻尺（连盒）     1件
6．7 倍物镜                  1组
7．14 倍物镜                 1组
8．30 倍物镜                 1组
9．60 倍物镜                 1组
10．可调变压器220/4～6/5VA   1只
11．2.1瓦6伏灯泡 (备用件)   3只
12. 数码摄像系统        1套
13. 专用适配镜及接口     1套(品牌电脑及打印机另可选购)
三、规格

测量范围不平度平均高度值（微米）	表面光洁度级别	所需物镜	总放大倍数	物镜组件工作距离（毫米）	视场（毫米）
＞1.0～1.6 ＞1.6～6.3 ＞6.3～20 ＞20～80	9 8～7 6～5 4～3	60timesN.A.0.55 30timesN.A.0.40 14timesN.A.0.20 7timesN.A.0.12	510times 260 times 120 times 60 times	0.04 0.2 2.5 9.5	0.3 0.6 1.3 2.5

摄影装置放大倍数                                          约6倍
测量不平度范围                                     (1.0～80)微米
不平宽度用测微目镜                           0.7微米～2.5毫米
               用坐标工作台                         (0.01～13)毫米
仪器重量                                                约23公斤
外形尺寸                                                约180×290×470毫米

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