QQ交谈
产品展示
【简单介绍】
【详细说明】
工作原理：
1，试验机输出气流罩将被测试品罩住，形成一个较密闭空间的测试腔，试验机输出的高温或低温气流，使被测试品表面温度发生剧烈变化，从而完成相应的高低温冲击试验；
2，可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件，与传统冷热冲击试验箱相比，温变变化冲击速率更快；
外形尺寸:
W(宽)790mm*H(高)1600mm*D(深)1080mm
温馨提示：外部尺寸请依设计确认三视图为准！
工作模式:
A）2路主空气管输出，由分布头分为8路供气，带2套1拖8 系统
B) 2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode
测试和循环于高温/常温/低温(或者不要常温）
制冷方式:采用风冷式HFC环保制冷剂复叠系统，温度可达-70℃
试品:
带2套1拖8 系统，金属封装PCB板模块8片；
前端空气经干燥过滤器处理,产品测试区及附近无明显结露现象。设备可以连续运转不需进行除霜。
满足试验标准:
1．GB/T 2423.1-2008 试验A：低温试验方法；
2．GB/T 2423.2-2008 试验B：高温试验方法；
3．GB/T2423.22-2012 试验N: 温度变化试验方法
4. GJB/150.3-2009 高温试验
5. GJB/150.4-2009 低温试验
6. GJB/150.5-2009 温度冲击试验
