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YTB-A039X射线荧光光谱仪
- 公司名称：
- 更新时间：
- 所 在 地：
- 生产地址：
- 浏览次数：
- 泉州市亚泰斯仪器有限公司
- 2017-07-18 02:21:53
- 泉州市
- 1489
【简单介绍】
【详细说明】
YTB-A039 X射线荧光光谱仪
产品特点：
高分辨率探测器：美国原装电制冷Si-PIN探测器，配套原装数字式多道脉冲幅度分析器，检测结果和分析速度远比国内采用线性放电法（模拟）多道分析器精准和快速。
精密稳定的高压电源：采用工业级X射线荧光分析的精密高压电源，为X射线光管提供长时间的稳定高压。
低功率X射线光管：采用W/Rh靶X射线管，*高速风扇制冷，设计寿命5万小时。
高像素摄像头：内置高清摄像头以及微动样品移动装置，方便对样品扫描区域的实时准确定位和观察。
*的X射线防护体系：采用电源开关锁、精密样品盖开合检测等安全装置*防止X射线的泄漏，确保操作人员的安全。
超安全样品腔：精密科学计算仪器外壳厚度，选择重量与安全*平衡点，既保证仪器使用的安全，也有效减轻仪器重量。
采用新型滤光片：有效的降低X射线荧光本底，提高检测灵敏度。*光学准直器，光束zui小直径达0.025mm，集中X射线光束，增强荧光强度，提高对微量元素的检测以及超薄镀层的分析。
*的光谱分析方法：紧跟zui前沿的X射线光谱分析方法，科学的对光谱进行元素定性、定量分析。由于采用了*复杂的计算、校正算法，zui大程度上减少了定量分析需要的标样，这在同行中处于地位。通过改进硬件，Pb、Cd等的检测灵敏度提高2倍。
无标样分析：真正意义上实现无任何标样的含量、镀层分析。对于含量分析，高含量元素相对误差范围可控制在1%以内；对于镀层分析，厚度相对误差范围可控制在10%以内。
**镀层厚度分析：选用的功能模块实现对镀层厚度的分析，使用户无需添加额外硬件即可进行镀层厚度分析。
高分辨率探测器：美国原装电制冷Si-PIN探测器，配套原装数字式多道脉冲幅度分析器，检测结果和分析速度远比国内采用线性放电法（模拟）多道分析器精准和快速。
精密稳定的高压电源：采用工业级X射线荧光分析的精密高压电源，为X射线光管提供长时间的稳定高压。
低功率X射线光管：采用W/Rh靶X射线管，*高速风扇制冷，设计寿命5万小时。
高像素摄像头：内置高清摄像头以及微动样品移动装置，方便对样品扫描区域的实时准确定位和观察。
*的X射线防护体系：采用电源开关锁、精密样品盖开合检测等安全装置*防止X射线的泄漏，确保操作人员的安全。
超安全样品腔：精密科学计算仪器外壳厚度，选择重量与安全*平衡点，既保证仪器使用的安全，也有效减轻仪器重量。
采用新型滤光片：有效的降低X射线荧光本底，提高检测灵敏度。*光学准直器，光束zui小直径达0.025mm，集中X射线光束，增强荧光强度，提高对微量元素的检测以及超薄镀层的分析。
*的光谱分析方法：紧跟zui前沿的X射线光谱分析方法，科学的对光谱进行元素定性、定量分析。由于采用了*复杂的计算、校正算法，zui大程度上减少了定量分析需要的标样，这在同行中处于地位。通过改进硬件，Pb、Cd等的检测灵敏度提高2倍。
无标样分析：真正意义上实现无任何标样的含量、镀层分析。对于含量分析，高含量元素相对误差范围可控制在1%以内；对于镀层分析，厚度相对误差范围可控制在10%以内。
**镀层厚度分析：选用的功能模块实现对镀层厚度的分析，使用户无需添加额外硬件即可进行镀层厚度分析。
| 技术指标 | 基本参数 | ||
| 探 测 器 | 145eV FWHM @ 5.9keV | 外型尺寸 | 650 X 520 X 475 mm |
| 稳 定 度 | 小于 0.05% | 样品腔 | 18 X 490 X 320 mm |
| 测量对象 | 固体、液体、粉末 | 输入电压 | AC 220V /50HZ |
| 测量时间 | 60-300s | 功 耗 | 260W |
| 元素范围 | 硫（S）-铀（U） | 重 量 | 48Kg |
| 检测下限 | 2ppm | 工作温度 | 20-30℃ |
| 含量范围 | 2ppm-99.99% | 工作湿度 | 40-70% |
| X光管压 | 1-50KV | | |
| X光管流 | 1-1000 A | | |
| **测镀层 | 0-40 m | | |
