武汉上材科技有限公司

武汉上材科技有限公司
2022-12-08 11:20:13205
参考价:

面议

具体成交价以合同协议为准
  • 产品型号:
  • 厂商性质:其他
  • 品牌:
  • 所在地区:武汉市

图片描述:

带激光测量系统的通用长度测量仪器。带水平基床的比较仪(高度同质、坚硬花岗石)X轴测量系统:干涉激光测量系统,长度525或1115mmZ轴测量系统:RENISHAW增量,精密长度测量系统,长度80mm

图片来源:

厂家其他产品图片