品名:X射线荧光镀层厚度测量仪FT110
型号FT110系列
概要1.即放即测!2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量!3.可无标样测量!4.通过样品整体图像更方便选择测量位置! 特长
[FT110的主要特征]
1.通过自动定位功能提高操作性测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。
2.微区膜厚测量精度提高通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
3.多达5层的多镀层测量使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
4.广域观察系统(选配)可从250×200mm的样品整体图像测量位置。
5.对应大型印刷线路板(选配)可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。
6.低价位与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。
[主要产品规格]
检测器比例计数管
X射线源空冷式小型X射线管
准直器0.1、0.2mmφ2种
样品观察CCD摄像头
样品台移动量250(X)×200(Y)mm
样品高度150mm
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FT110系列X射线荧光镀层厚度测量仪 产品信息