产品信息
特长
根据用途的各种检测器的阵容
以次的机型MCPD-9800为首，拥有两个系列，共达9个波长范围的检测器型号。
可配合客户的需求与测量用途，选择的检测器。
测量项目与所对应的检测器 | ◎处为 |
| MCPD-9800 | MCPD-6800 | ||
| 发光、荧光类 | 光源测量 | ◎ | ○ |
|---|---|---|---|
| 发光、荧光测量 | ◎ | ○ | |
| 反射、穿透类 | 反射特性测量 | ◎ | ◎ |
| 物体颜色测量 | ◎ | ◎ | |
| 膜厚测量 | ◎ | ◎ | |
| 吸收测量 | ◎ | ◎ | |
| 显微分光测量 | ◎ | ○ | |
| 生产过程中 | 多点测量 | ◎ | ○ |
| 在线测量 | ◎ | ○ | |
具备了通用的USB端口，以及能满足远程遥控测量的LAN通信功能。便捷性和测量用途的范围扩大。
通过标准配置的光纤，不再受到样品形状和大小的约束，从而能够搭建更自由的光学系。另外，能更容易与显微镜、大型平台等其他装置进行组合，在所有领域都得以发挥其优异的性能。此外，它很容易与显微镜和大型载物台等其他设备结合使用，因此在各个领域都表现出的性能。
可靠性
MCPD能满足日本工业标准JIS z 8724（颜色的测量方法-光源色)中对分光测光器的所有精度要求，尽可放心使用。
在根据计量法制定的校正实验室注册制度（JCSS*1注册制度）下，大琢电子的光计测实验室被认定为属于“光”注册分类的国际MRA*2对应的JCSS校正实验室。为了公平公正地评估照明器具和光源的性能，国内外都在推进光特性测量方法的规格化等各种各样的标准化，这些标准化所要求的测光均以“光”的可追溯性为基本。本次认定后，大琢电子开启了新的“光”校正事业，通过提供测光的可追溯性，努力为普及和发展节能环保的照明贡献自己的力量。
定制订单
我们拥有丰富的附属配件、选配单元和分析软件。
通过积累的技术和know-how，为客户需求提供技术支持、有价值建议和“系统”。
MCPD-9800
MCPD-9800为瞬间多通道分光器MCPD系列的机型，与本公司以往的机型相比，实现了宽动态范围、低杂散光功能、以及更高速、更高再现性。高精度紫外定量评估、量子效率测量、在线测量为首的所有高精度测光系统。分光测量的世界得到进一步扩展。
特长
具有宽动态范围，于全光束测量。
搭载低杂散光功能，于UV评估和量子效率评估。与本公司旧机型相比，杂散光率只有五分之一。
最短5ms到65s*的曝光时间，于微弱光测量、高速测量、在线测量等广泛的测量需求。
采用Scramble加扰光纤*2，实现高再现性。
轻量、紧凑的竖立式设计，与本公司以往旧机型相比，体积降低约60%!
*1 65s为选配*2916C机型除外
测量项目
发射光谱测量
透射/吸收光谱测量
反射光谱测量
荧光测量
物体颜色测量
光源颜色测量（色度、亮度、照度）
膜厚测量
等离子体发射光谱测量
规格
| 检测器本体 | MCPD-9800 | ||||||||
| 2285C | 3095C | 3683C | 311C | 916C | |||||
| 测量波长范围（nm） | 220-850 | 300-950 | 360-830 | 360-1100 | 900-1600 | ||||
| 分光器 | 平面场型 | ||||||||
| 测出粒子（ch） | 电子冷却 CCD 图像传感器 | 电子冷却
| |||||||
| 512 | 1024 | 512 | 1024 | 512 | 1024 | 512 | 1024 | 512 | |
| 每单位粒子的波长宽幅（nm/粒子） | 1.4 | 0.7 | 1.4 | 0.7 | 1.0 | 0.5 | 1.6 | 0.8 | 1.9 |
| 光纤 | 石英纤维，底座 φ12 mm，长度约 2 m | 掺Ge 石英制纤维 长度约 2 m | |||||||
| 扫描时间 | 5ms-20s | 1ms-10s | |||||||
| 通讯接口 | USB 或 LAN | ||||||||
| 消耗电量、电源电压 | 125VA，单相AC100-240V 50 / 60Hz | ||||||||
| 尺寸、重量 | 105 (W) x 230 (H) x 280 (D) mm，约 6 kg * | ||||||||
◎根据定制，由多个分光器组合，可对应宽波长范围域测量式样。
MCPD-6800
标准型系统采用电子冷却型图像二极管,实现高S/N。
轻量、紧凑的竖立式设计，与本公司以往旧机型相比，体积减少约60%。
特长
MCPD-6800是用于分光检测与分析的基本系统。可以瞬间进行分光光谱的测量,也可以通过自由组合的光学系和丰富的配件，搭建各式各样的测量系统。测量波长范围有4款型号可选。测量项目
发射光谱测量
透射/吸收光谱测量
反射光谱测量
荧光测量
物体颜色测量
光源颜色测量（色度、亮度、照度）
膜厚测量
等离子体发射光谱测量
规格
设备配置
| 透过吸收测量系统 |
| 溶液特性测量系统 |
| 微小区域漫反射测量系统 |
| 膜厚测量系统 |
| 反射测量系统 |
| 物体颜色测量系统 |
| 发光、荧光测量系统 |
| 全光束测量系统 |
| 配光测量系统 |
| 显微分光测量系统 |
| 多点测量点切换对应系统 |
| 导轨测量系统 |
