特点:
1. 用于在持续生产过程中对薄膜、轴带和冲压带上的涂镀层进行连续测量
2. 可按照样品运动方向正确调整测量头的角度
3. 操作简单,设置时间短
4. X射线探测器可以为比例计数管,珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探测器
5. 有定位装置,用于测量多个位置进行测量
6. 根据客户需要专门设计
7. 自动校准
8. 可以快速地从一条生产线上转移到另一条生产线
9. 可方便地集成到质量控制系统和过程控制系统中
典型应用领域:
1. 电镀条带,例如接触点、冲压带
2. 测量热镀锌钢带
3. 太阳能薄膜电池(光伏产业)
4. 薄膜和条带上的金属涂镀层
5. 电子工业及其供应商
6. 生产过程监控