智能玻璃工频介电常数测试仪GDAT-A
智能玻璃工频介电常数测试仪GDAT-A技术指标
1．Q值测量
a．Q值测量范围：5～999。
b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。
c．标称误差
频率范围：25kHz～10MHz；
固有误差：≤5%±满度值的2%；工作误差：≤7%±满度值的2%；
频率范围：10MHz～50MHz；
固有误差：≤7%±满度值的2%；工作误差：≤10%±满度值的2%。
2．电感测量
a．测量范围：0.1μH～1H。
b．分 档：分七个量程。
0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH，
0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。
3．电容测量
a．测量范围：1～460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)；
b．电容量调节范围
主调电容器：40～500pF；
准 确 度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1%；
微调电容量：－3pF～0～+3pF；
准 确 度：±0.2pF。
4．振荡频率
a．振荡频率范围：25kHz～50MHz；
b．频率分档：
25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，
1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。
c．频率误差：2×10±1个字。
5．Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。
6．仪器正常工作条件
a. 环境温度：0℃～+40℃；
b．相对湿度：<80%；
c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．试样尺寸
圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε>30时）
8．其他
a．消耗功率：约25W；
b．净重：约7kg；
c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。
GDAT-A概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
GDAT-A产品优势：
西门子cpu单元处理器是目前采集精度zui高zui稳定的采集系统
（淘汰了zui初的51单片机控制采集精度差干扰信号多 和 PLC电缆较长，尤其是DA 模块采用电压信号输出时，线路有较大的电压降幅，影响了系统的稳定性和可靠性
CPU zui广泛用于中国通讯设备服务器 如： 中国联通、中国移动 采用的专业信号处理用途上）
无线蓝牙控制拜托距离困扰人机分离使用更加方便。
（摆脱了长长的数据线导致的信号传播慢 命令延时的困扰 也正因为无线蓝牙使我们的仪器拥有支持更多的电脑同时操作等特点）
仪器故障自动报警系统是操作人员安全更加有保障。
（当线路有故障时仪器会自动报警更大保护人员安全 此报警系统属于故障报警和试验放电报警、软件报警无关）
配备网络端口共享功能 让更多人员操作试验试验结果存储办公电脑使报告更加清晰简单
（其原理就像共享一台打印机一样方便）
GDAT-A《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。
GDAT-A基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的zui高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取zui高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。
：
