树木年轮元素分析仪Scanning XRF简介
树木年轮元素分析仪是一款的测量分析设备，在上同时采用了XRF和X-射线成像技术，可用于木材、湖海沉积物、堆积物、泥炭等样品的浓度和元素分析。可测量的元素有Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb等，其中许多可测至痕量水平以下，对灵敏度和分辨率要求较高的研究尤其适合。
树木年轮元素分析仪Scanning XRF系统特点：
◎ 结合了X-射线成像与XRF元素分析
◎ 可得高精度的样品密度图像和元素曲线
◎ 利用XRF分实现多种元素的分析
◎ 可分析不同类型、形状、尺寸和厚度的样品，可以是树木生长锥取下的树木样品，也可是片状、块状样品或圆形沉积物样品等，不需要对样品做前期表面处理，样品准备简单
◎ 自动进行多样品分析
◎ X-射线成像的信息以数字化方式储存，结果可即时显示。
系统组成：
X-射线发生器，标准LFF型X光显像管，PolyflatTM 扁平X光束光学系统，X光束调节器，控制台，样品槽，X-射线检测器，密度校准塑料楔，操作台，平板扫描仪，冷却装置，计算机，软件，用户手册
树木年轮元素分析仪Scanning XRF技术指标：
1）测量原理：X-射线荧光分析和数字X-射线成像技术
2）X 射线发生器：60 kV，55 mA，较大功率3.3 kW
3）显像管：一个标准的LFF型X光显像管（Cr）。较大功率工作寿命2000h，功率降低寿命延长。当使用铬管进行木材密度分析时，样品厚度范围为1~10mm，厚度较厚的样品(较厚50 mm )，通常选择Mo管，这需要另一种类型的X-射线成像感应器。
4）光学系统：PolyflatTM 技术，PolyflatTM 扁平X光束光学系统，用于局部区域的快速测量，测量点面积为50微米×20厘米， X-射线图像的分辨率达10x20微米，宽15~20mm（根据软件设置），通过软件组合片段图片可得到宽度大于20mm的图像。使用这种光束的XRF，水平方向的分辨率为50微米，垂直方向的分辨率为2mm。
5）X光束调节器：X光束调节器可使X-射线图像在水平方向的分辨率达10微米
6）控制台：一个300x200mm X/Y可移动电脑控制台，扫描点长2.5微米，重现性好
7）样品槽：较多放9个长280mm，宽7~12mm的木条样品。样品槽可拿出。其他类型的样品槽根据需要可订购。
8）X-射线检测器：线性排列感应元件，其测量所得图像的格式为16 bits。包含控制、操作及数据采集所需的硬件和软件。适于厚度不较过15mm木材类样品的测量。
9）密度校准塑料楔：用于密度校准，位于样品固定槽上方。
10）操作台：780×800×1600mm（长×宽×高），用于放置上面提到的所有原件。测量区用一块透明板遮挡，用于防尘，防X-射线泄露。操作台内置有效控制系统，打开瞬间，X-射线会自动关闭。
11）扫描仪：一个平板扫描仪，用于测量前，条形样品槽内样品的扫描。
12）冷却装置：冷却水泵
13）电源：建议配置UPS
14）重量：250kg
