1.内置高精度对中装置（可选项）
2.带动力驱动的张力控制弯曲辊
3.检测纬纱的检测器
4.检测前对面料上皱纹进行展平的螺纹辊（标准配置）
5.实现高精度且高速矫正的CPU
DENSIMRTIC SVWIII 通过改良，实现了比以往检测器更高的检测性能：
1.增加面料分析模式，条件选择更加容易；
2.对传统V型检测器进行进一步改良，与本公司以往产品相比，布目检测精度提高了200%（0.05度），检测响应速度提高了150%；
3.根据各种面料自动设定各种检测参数，增加了可检测布种
采用了兼具波纹检测与缩放式细缝检测两种检测功能的双模式检测方式。根据面料种类，由计算机选择检测方式，提高了布目检测的稳定性.
1.波纹检测利用通过密度仪所得到的波纹现象来判定纬纱密度，不受斜纹等织物组织的影响顺利进行纬纱检测
2.缩放式细缝检测
根据面料密度将缝隙宽度控制至状态。面料密度的设定范围为20~150根/英寸，但如果面料质地单纯，设定范围可为1~450根/英寸
3.前馈控制
作为新的可选项，采用了在矫正部之前配置检测部的前馈控制。前馈控制单元捕捉进入矫正部之前的布目扭曲变化情况，并预测控制矫正部。前馈控制单元与矫正部出口的检测器共同工作，可进一步高性能地矫正布目扭曲，实现了仅凭反馈式检测无法做到的零残留布目扭曲。
4.控制
根据织纹扭曲的严重程度和面料传送速度改变矫正速度，使得矫正动作与面料相适应。此外，还为新设计的张力调节辊采用数字张力控制，使得张力控制的范围更大，向下可控制更低张力，向上可控制更大张力，而且精度更高。根据纬纱变形量及面料速度可变换矫正速度，从而减轻了矫正时对面料的负担。通过采用新设计的跳动辊，实现了从超低张力到高张力的广范围且高精度的张力控制。
