IM3570阻抗分析仪性能：
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
日本 IM3570阻抗分析仪基本参数
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
日本 IM3570阻抗分析仪基本参数
| 测量模式 | LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量 |
| 测量参数 | Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q |
| 测量量程 | 100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定） |
| 显示范围 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示值 θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999） Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%） |
| 基本精度 | Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
| 测量频率 | 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进） |
| 测量信号电平 | V模式，CV模式（普通模式） 50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下） 10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上） CC模式（普通模式） 10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下） 10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上） |
| 输出阻抗 | 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω |
| 显示 | 彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF |
| 测量时间 | 0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值） |
| 测量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
| 其他功能 | DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能 |
| 接口 | EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN |
| 电源 | AC90~264V，50/60Hz，大150VA |
| 打印 | 拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446） |
| 接口 | GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准) |
| 电源 | AC90~264V，50/60Hz，大150VA |
| 体积和重量 | 330W×119H×307Dmm，5.8kg |
| 附件 | 电源线×1 |
主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头
IM3570阻抗分析仪可选件：
4端子探头L2000:DC~5MHz，1m长
测试冶具 9262:直接连接型, DC～5 MHz
测试冶具 9263:DC~5MHz，直接连接型，测试样品尺寸：1mm~10mm
SMD测试治具9677:用于侧面有电极的SMD;DC~120MHz，测试样品;尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699:用于底部有电极的SMD;DC~120MHz，测试样品;尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
阻抗分析仪是以让测量频率和测量电压连续变化的同时，扫描测量被测物的特性为主要功能。可用于如线圈、变压器、电容、压电元件的开发和检查等用途中。因此，阻抗分析仪对于复苏中的电子零部件市场，可以说是不可欠缺的测量仪器。
※阻抗：交流电路中电流不容易流通的程度。单位为Ω。
