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组合荧光系统采用模块化设计,既可实现稳态、瞬态测量,又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择(光源、探测器、样品架、变温模块等)...
OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目:•绝*反射率测量•多层膜解析•光学常数分析(n:折射率,k:消光系数)
OP-AI系列气浮隔振光学平台• 固有频率:<1.2~2Hz• 重复定位精度:±0.10mm• 台面材料:SUS430高导磁不锈钢• 台面厚度:100...
半导体参数分析仪型号有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
网络分析仪主要特性和功能:· 具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案· 可以作为单个产品解决方案一次性购买· 对器件施加精确的调平功率,进行功率扫描· 提供各种...
组合荧光系统采用模块化设计,既可实现稳态、瞬态测量,又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择(光源、探测器、样品架、变温模块等)...
OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目:•绝*反射率测量•多层膜解析•光学常数分析(n:折射率,k:消光系数)
OP-AI系列气浮隔振光学平台• 固有频率:<1.2~2Hz• 重复定位精度:±0.10mm• 台面材料:SUS430高导磁不锈钢• 台面厚度:100...
半导体参数分析仪型号有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
网络分析仪主要特性和功能:· 具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案· 可以作为单个产品解决方案一次性购买· 对器件施加精确的调平功率,进行功率扫描· 提供各种...
组合荧光系统采用模块化设计,既可实现稳态、瞬态测量,又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择(光源、探测器、样品架、变温模块等)...
OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目:•绝*反射率测量•多层膜解析•光学常数分析(n:折射率,k:消光系数)
OP-AI系列气浮隔振光学平台• 固有频率:<1.2~2Hz• 重复定位精度:±0.10mm• 台面材料:SUS430高导磁不锈钢• 台面厚度:100...
半导体参数分析仪型号有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
网络分析仪主要特性和功能:· 具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案· 可以作为单个产品解决方案一次性购买· 对器件施加精确的调平功率,进行功率扫描· 提供各种...
组合荧光系统采用模块化设计,既可实现稳态、瞬态测量,又能实现UV-VIS-MIR的宽范围测 量。组合荧光系统多种部件可供选择(光源、探测器、样品架、变温模块等)...
OPTM 系列显微分光膜厚仪 测量项目:•绝*反射率测量•多层膜解析•光学常数分析(n:折射率,k:消光系数)
OP-AI系列气浮隔振光学平台• 固有频率:<1.2~2Hz• 重复定位精度:±0.10mm• 台面材料:SUS430高导磁不锈钢• 台面厚度:100...
半导体参数分析仪型号有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
网络分析仪主要特性和功能:· 具有紧凑型频率扩展器的单次扫描解决方案· 可以作为单个产品解决方案一次性购买· 对器件施加精确的调平功率,进行功率扫描· 提供各种...
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