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CMI165在线检测面铜厚度仪膜厚仪

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深圳市方源仪器有限公司
2022-04-26 10:11:25
深圳市
130

【简单介绍】

深圳市方源仪器有限公司提供在线检测面铜厚度仪膜厚仪

【详细说明】

深圳市方源仪器有限公司提供在线检测面铜厚度仪膜厚仪。一直以来，面铜测量的结果往往受到样品温度的影，牛津仪器工业分析部研发的SRP-T1探头，综合运用微电阻原理及温度补偿技术，使其成为世界上推出带温度补偿功能的铜箔测厚仪的制造商。确保测量结果精确而不受铜箔温度的影响。
在线检测面铜厚度仪膜厚仪

深圳市方源仪器有限公司提供在线检测面铜厚度仪膜厚仪。一直以来，面铜测量的结果往往受到样品温度的影，牛津仪器工业分析部研发的SRP-T1探头，综合运用微电阻原理及温度补偿技术，使其成为世界上推出带温度补偿功能的铜箔测厚仪的制造商。确保测量结果精确而不受铜箔温度的影响。

在线检测面铜厚度仪膜厚仪产品示意图：

产品名称	在线检测面铜厚度仪膜厚仪
型号	CMI165
品牌	英国牛津仪器Oxford
用途	测试高/低温的PCB铜箔，专为PCB铜箔制造商设计
测试原理	利用微电阻原理通过四针式探头进行铜厚测量，符合EN 14571测试标准
测量范围	化学铜：(0.25-12.7)μm,(0.01-0.5) mils 电镀铜：(2.0-254)μm, (0.1-10) mils
仪器再现性	0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)
探头	SRP-T1
单位	mils、um、oz
统计数据显示	强大的数据统计分析功能，包括数据记录平均数、标准差和上下限提醒功能
电池	AA*2
产地	美国

在线检测面铜厚度仪膜厚仪特点：
可测试高温的PCB铜箔
显示单位可为mils，μm或oz
可用于铜箔的来料检验
可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试
可用于电镀铜后的面铜厚度测试
配有SRP-T1，带有温度补偿功能的面铜测试头
可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试
用户可自行选择自动、连续、手动测量模式
SRP-1探针保护罩，照明功能便于测量时准确定位
SRP-1可由客户自行替换，替换后无需校准即可使用
仪器内存容量大，可储存9690条检测结果

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中国代理商：深圳市方源仪器有限公司
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