惠州市天卓创智仪器设备有限公司
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科技快速进步，电子半导体的开发及应用，往往会应产品的需求而相对提高成品组合间的品质，如:阻抗、阻抗率。目前在半导体业间常需要此阻抗、阻抗率的数据来了解其相互之间问题。由于以传统的方式来测量需要耗费人力、物力及大量时间去套入公式以求得结果,造成检测中一大困扰，因此，日东精工分析科技便研发了更方便的测量仪器来解决，不用再计算繁琐的公式了。符合了国际间的IS0 1853、ISO 2878、ASTM D991、JIS K7194,JSR 1637。
| 有效测量范围 | X轴:300mm Y轴:300mm Z轴:50mm |
| 样品厚度 | ≤40mm |
| 探头垂直操作高度 | ≈50mm |
| 定位分辨率 | X轴、Y轴、Z轴:0.1mm |
| 重复定位精度 | X轴、Y轴:±0.08mm;z轴;Z轴:±0.1mm |
| 探针映射 | 4-pin 系列: Pin-to-pin 1.0mm,1.5mm,(间距 5mm) |
| 样品测量基座 | 白色 PVC 片材或玻璃板 X、Y 轴带 50mm 间距刻度 |
| 样品传送 | 手动(不兼容自动载体机等) |
| 接口 | USB 端口 |
| 电源 | 85 至 264 VAC(50/60Hz) 能量消耗:64 VA |
| 外形尺寸和重量 | 约543Wx492Dx410H(mm); 约22kg |
用途
1.生产工程
2.质量控制
3.研究与试验发展
应用范围
1.金属、金属薄膜
2.导电涂层、导电薄膜
3.片材
MCP-S330 的特点
可与Loresta GX 连接，测量范围为10~(-4)-10~7 Ω;
全自动化:测量、算术、数据处理、3D 图形输出;
样品尺寸:达 300 平方奎米(可连续测量多张样品);
测量位置设置:除三种类型的测量位置组外，还可以从外部源导入坐标数据:栅格输入、线输入、顺序输入;
比较器功能:在屏幕上标注在范围外的测量结果的测定点;
MCP-T370
MCP-T700
MCP-HT800
MCP-PD600
MCP-S330
MCP-PD51
MCP-T360
MCP-HT450
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