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Multi X 系列全并行式相控阵超声检测系统 Multi X不同于其他相控阵系统,它具有的全并行硬件结构。强大的硬件可支持全部通道同时激发和接收,实现高灵敏度、高分辨率检测。 Multi X同时可以驱动线性和矩阵探头,可以进行**检测并且不降低检测速度。主要应用于高灵敏度材料检测。
硬件特点:
Multi X 系列全并行式相控阵超声检测系统
★ 全并行结构可以驱动线性和矩阵相控阵探
头,并且支持智能柔性探头
★ 模块化设计可以根据用户需要进行扩展(以
8通道为基数进行扩展)
★ Multi X 32,并行32个通道 (32×32:脉冲
发射通道×接收通道)
★ Multi X 64,并行64个通道
★ Multi X 128,并行128个通道
★ Multi X 256,并行256个通道
★ 使用可编程处理器实现即时硬件处理
★ 快速扫描和信号重建 技术参数:
★ 电子聚焦,电子扫查,扇形扫查
★ 检测模式:脉冲回波或者发射接收模式,动态深度聚
焦(DDF),动态激发孔径
★ *大脉冲重复频率:30KHz,根据聚焦法则可改变
★ 系统带宽:0.8到20 MHz
★ 电压可调节:30~200V,步进1V
★ 负方波脉冲,脉冲宽度可调整:30ns~1.2us,步进
2.5ns,下降时间<10ns(200V,50ns)
★ *大采样率:100MHz(从6.6到100MHz可选择) ,10bit
★ *大数据流量> 30 MB/s
★ 聚焦法则存储在32MB快速硬件内存中,在扫查过程
中可以快速应用聚焦法则
★ 每个通道的增益范围:0~80dB
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