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XTD-200全自动膜厚仪

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更新时间：2025-03-13 11:34:48浏览次数：236次

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产品简介

XTD-200全自动镀层测厚仪仪器简介：XTD-200是一款专用于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析

详细介绍

XTD-200全自动镀层测厚仪

仪器简介：XTD-200是一款专用于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势；搭载全自动可编程移动平台，无人值守，便可实现多样品的自动检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。产品优势：技术参数：1.

yle="clear:none !important;"> 测量面积：最小0.002mm²
yle="clear:none !important;"> 镀层分析：23层镀层24种元素
yle="clear:both;"> 仪器特点：可变焦对焦
yle="clear:none !important;"> 仪器优势：同元素不同层分析
yle="clear:both;"> ：
yle="clear:none !important;"> 服务宗旨：专注研发，专业生产，专精服务

仪器简介：
XTD-200是一款专用于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。
该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势；搭载全自动可编程移动平台，无人值守，便可实现多样品的自动检测。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

产品优势：
XTD仪器优势.png

技术参数：
1. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）
2. 涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）
3. 厚度检出限：0.005μm
4. 成分检出限：1ppm
5. 最小测量直径0.05mm（最小测量面积0.002mm²）
6. 对焦距离：0-90mm
7. 样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm
8. 仪器尺寸：760mm*550mm*635mm
9. 仪器重量：120KG

应用领域：

多元迭代EFP核心算法（号：2017SR567637）

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法，结合的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可精准分析出镍磷含量比例。
重复镀层应用：不同层有相同元素，也可精准测量和分析。
如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。

选择一六仪器的四大理由：
1.一机多用，无损检测
2.最小测量面积0.002mm²
3.可检测凹槽0-90mm的异形件
4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

配置清单：