测定元素 | Si (用户提供标准样品，日立工程师帮助用户在机器上建立校准曲线) |
测量单位 | g/m2 |
预设校准曲线范围(根据标样) | 0.3~1.6 g/m2 |
样品状态 | 纸张，薄膜 |
分析时间 | 用户可自定义分析时间，典型分析时间是10-300秒。分析结果动态显示功能 |
X射线激发 | 激发电压30kV，750uA，功率3瓦，Pd靶X射线管 |
X射线检测 | 高分辨率硅漂移检测器SDD，分辨率优于160eV，可实现多元素检测，无需滤光片即可分开相近元素 |
主要硬件特点 | －不需要氦气 －空气压力自动校正机构 －样品温度自动校正机构 |
数据处理系统 | 集成式多通道能量分析器和数据处理系统 |
分析软件 | 应用于日常分析、再标准化校正、定性分析、定量分析、以及全部的X射线校正模式；日常维护和再标准化校正自动提醒功能 多项自动校正功能：实验室空气压力校正 |
数据显示和存储 | 7英寸工业触屏集成电脑，分辨率480 (H) x 800 (V) ；3个标准USB接口，可实现U盘数据传输；主机内存可储存十万个测试数据及谱图信息 |
电源要求 | 100 – 240 V, 47 / 63 Hz |
外形尺寸和重量 | 长宽高：440X520X155mm，重量16Kg |
仪器使用条件 | 实验室环境温度：10 － 35℃，湿度小于80%，无冷凝水环境 |
