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粒径统计分析显微镜03C-UV-G

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产品简介

产品概述：粒径统计分析显微镜03C-UV-G是一套专门用于大的固体粉末、建筑沙石、颜料涂层及各类反光材料进行粒径统计的显微分析系统，颗粒的检测范围：20~10000m

详细介绍

产品概述：
粒径统计分析显微镜03C-UV-G是一套专门用于大的固体粉末、建筑沙石、颜料涂层及各类反光材料进行粒径统计的显微分析系统，颗粒的检测范围：20~10000μm。该系统能自动提取每个颗粒的形状，并计算颗粒的尺寸，面积，圆度等参数，自动统计出颗粒的平均直径，及各个区间粒径所占的比例。系统配置了科研级三目透射显微镜XS-18C，粒度分析软件UV-G，专业高清晰CCD成像系统，电脑，打印机。精选专业高清晰模拟摄像头，使得图像边缘清晰，颗粒的提取更准确.粒度分析软件能自动对颗粒进行统计并给出相应的粒径报表，以供打印输出。该系统应用范围广泛，凡是与颗粒图像形态学有关的各种检测与分析：例如固体粉末、建筑沙石、颜料涂层，漆表面缺陷分析，农业种子形态分析，各种微小异性几何尺寸测量，化学工业中各种反应物粒子的形态分析等，都可以利用UV-G来完成。

性能特点：
1、配置连续变倍体视显微镜，上下光源；
2、可进行透反射观察，立体感强，成像清晰；
3、配置了日本松下专业高清晰模拟摄像头，拍摄图像清晰；
4、能对颗粒图像进行多种测量，包括直径，圆度，面积等等，并能自动统计平均粒径，生成数据统计报表。测试结果准确。

规格参数：

一、系统配置：

序号	配置名称	主要规格参数
01	三目体视显微镜XT-03C	7-55X
02	日本松下专业高清摄像头	彩色, 照度：0.0003Lux(SENS UP模式)
03	专业高精度图像采集卡	实时采集PAL制、NTSC制标准黑白/彩色信号，10 bit A/D采样
04	摄像接口MCL	1X或者0.5X
05	粒度分析软件UV-G	包含所有基本测量功能，可以自动提取颗粒，自动统计颗粒的粒径，输出EXCEL报告。
06	联想台式机	XP、win7系统，内存1G以上，独立显卡512M以上，PCI插槽
07	佳能打印机	彩色激光打印机

二、显微镜技术参数：

序号	名称	技术参数
01	目镜	高眼点大视野目镜10X(Φ22mm)
02	物镜	0.7X-5.5X 物镜变倍比 1：7.9
03	总放大倍数	7X-55X（选购0.5X、2X大物镜，20X目镜可达3.5X-220X）
04	观察头	三目，视度调节±5屈光度 45°倾斜 360°旋转
05	瞳距	54-75mm
06	视场范围	4.0-31.4mm
07	工作距离	工作距离105mm
08	调节范围	升降调节范围45mm 立杆高240mm
09	载物台	配有压片和φ95mm玻璃台板和黑白工作板
10	光源	上下LED灯照明，独立开关,亮度可调，发热量低,寿命长
11	仪器重量	净重：5.0kg 毛重：6.5kg
12	仪器尺寸	仪器尺寸24X34X42（cm）包装尺寸 52X30X42（cm）