大连通测仪器有限公司
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RAMScope - EXG GT170系列是ECU控制应用的验证系统。 多重(RAM/CAN/模拟)数据测量和测试支持系统，兼具高速度、稳健性和抗噪性。
为开发ECU控制应用，验证工作的成本和时间日益增加，因此需要提高生产率。
GT170系列是一种多重(RAM/CAN/模拟)测量系统，可用于在软件开发过程中同步软件处理、 ECU周边连接及模拟信号的数据更改。
另外，我们提供以下测试功能：
• RAM数据重写(写入)功能，可以按照应用场景动态地插入测试数据到RAM中。
• 发送CAN测试数据作为虚拟ECU节点。
使用这些功能，您可以执行ECU的单元测试、耦合测试和系统评估。
此外，通过ASAM XCP on Ethernet和外部触发，该系统也可以与其他公司的工具相链接。
◆ 测量模块
• RAM测量模块
• CAN模块
• 模拟输入模块
◆ 同步测量
• 所有模块的数据可以在同一时间轴上测量
◆ 可扩展性
• 可根据需要选择模块
最多10个模块(包括主模块)
• ASAM标准：支持XCP on Ethernet
扩大与其他制造商在兼容性/测量工具和HILS开发方面的合作
• 每个模块分别进行Trigger IN/OUT
• 测量启动/停止可通过与外部信号的联动以及手边的开关来控制
• 使用Trigger IN/OUT可以与其他测量仪器进行同步测量
◆ 高速RAM测量
• RAM数据可以在控制应用没有加载的情况下被测量和采集。
• RAM监测周期：最短5µs(取决于微处理器的调试接口和监测通道数
• 监测通道数：最多可以测量 2048个点
• 探头与用户系统进行电气隔离
◆ CAN/CANFD测量
• CAN：1Mbps； CANFD：8Mbps
• 2通道在一个CAN模块中
◆ 模拟测量
• 动态量程1V ~ 100V(1000V)
• 采样频率400KHz 差分信号输入
• 可轻松测量变频器等设备的不同位置的电压
◆ GUI： RAMScopeVP(PC的测量应用)
• 多个RAM数据、 CAN数据和模拟数据在同一时间轴上显示
◆ RAM测试数据(值)重写
• 可使用场景重写RAM值。
• 可以强制注入异常数据。
它可以验证错误处理确认和错误处理/故障处理行为。
■ 设置项目
• RAM/CAN/模拟模块配置
• 测量条件配置(RAM：符号/参数， CAN：消息/信号)
• 事件配置(启动/停止条件/触发设置)
• 设置可以保存在项目文件中并进行复制
■ 图形显示
• 叠加显示和灵活的布局设置
■ 数据格式
• RAMScope原生格式(获取的数据可以转换为ASAM格式)
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