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上海彼爱姆光学仪器制造有限公司


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光切法显微镜9J(普通型)

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所  在  地上海市

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更新时间:2025-01-05 12:07:41浏览次数:41次

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产品简介

光切法显微镜9J(普通型)一、用途9J光切法显微镜是以光切法测量零件加工表面的微观不平度

详细介绍

光切法显微镜9J(普通型)

一、用途

9J光切法显微镜是以光切法测量零件加工表面的微观不平度。适用于测量1.0~80微米即原标准▽3-▽9级表面光洁度。对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。 光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。


二、技术规格

测量范围不平度平均高度值 (um)表面光洁度级别所需物镜总放大倍数

物镜组件

工作距离 (mm)

视场 (mm)

>1.0~1.6

>1.6~6.3

>6.3~20

>20~80

9

8~7

6~5

4~3

60timesN.A.0.55

30timesN.A.0.40

14timesN.A.0.20

7timesN.A.0.12

510times

260 times

120 times

60 times

0.04

0.2

2.5

9.5

0.3

0.6

1.3

2.5

1、摄影装置放大倍数:约6X

2、测量不平度范围 :0.001~0.08mm

3、不平宽度: 用测微目镜: 0.0007~2.5mm;用坐标工作台:0.01~13mm

4、仪器重量: 约23kg

5、外形尺寸: 约180×290×470mm

三、仪器成套性:

序 号名称单位数量
1仪器本体1
2测微目镜1
3坐标工作台1
4V 型块1
5标准刻尺(连盒)1
67 倍物镜1
714 倍物镜1
830 倍物镜1
960 倍物镜1
10可调变压器220/4~6/5VA1
112.1瓦6伏灯泡 (备用件)3
12产品使用说明书1
13产品合格证明1
14产品保修卡1




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