梅特勒 XPE微量分析天平适用于微量样品的准确称量
您的样品是否极其昂贵？您的加样量是否非常微小？或者您想将微量样品直接加入大的去皮容器中？XPE微量分析天平特别适用于微量样品的准确称量。
XPE56微量分析天平具有1µg的可读性，称量值可达52g，提供52,000,000的至高分辨率。XPE56具有至高灵敏性和经久耐用性，非常适用于将微量样品直接加入大的去皮容器中进行称量。
XPE微量分析天平 产品特性
•采用高分辨率后置式传感器，内置两组校正砝码，满足用户高精度的称量需求
•StatusLightTM状态指示灯，通过颜色直观的显示天平的状态
•具有中文界面的SmartScreenTFT彩色触摸屏，实现安全，便捷的天平操作
•SmartSens红外感应器，实现无需用手接触的称量操作：开关门、打印、去皮等
•SmartGrid悬挂式网格秤盘，获得快速、准确称量结果
•ErgoClip Basket Micro微小金属篮易巧称量件，安全放置去皮容器，并有效屏蔽静电荷影响
•StaticDetectTM静电检测技术可检测样品和/或容器上的静电荷，并提供警告
•LevelGuide水平向导，在天平未处于水平时提供警告，并在触摸屏上显示完整的说明和红/绿色实时图形化水平泡
•SmartTracTM动态图形显示，直接显示天平已使用的称量范围
•proFACT专业级全自动校准技术，温度漂移和时间设置触发的自动内置砝码校正和线性校正，获得准确称量结果
•ITC内部温度控制，降低温度对于称量结果的影响
•User Management用户管理功能，设置不同天平菜单的进入权限
•MinWeigh最小称量值功能，提供符合质量法规的称量帮助(需要梅特勒-托利多客户服务工程师现场设置激活)
•TestManagerTM测试管理器内置固件中进行符合SOP的日常测试
•优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
•丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测定、差重称量、滴定应用、移液器测试
•可拆卸、清洗的防风罩设计，实现快速清洁
•显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀
•标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽，方便连接打印机、电脑等外围设备
•符合GxP规范的称量结果输出，获得完整的、可追溯的称量信息
•通过英特网下载e-Loader II软件，实现天平软件的即时更新
