北京培科创新技术有限公司
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肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与View®2XP（Gatan公司制造）结合使用，能对样品进行自动切割，自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构，可以对精细结构进行三维分析。
技术参数
| JSM-7100F | JSM-7800F | |
| 分辨率 | 1.2nm (30kV)、3.0nm (1kV) | 0.8nm (15kV)、1.2nm (1kV) |
| 加速电压 | 0.5～30kV | 0.01～30kV |
| 放大倍率 | x 10～1,000,000 | x 25～1,000,000 |
| 3View®2XP | |||
| 切割厚度 | 15～200nm (生物类样品 25～50nm) | ||
| 切割速度 | 0.1～1.2mm / 秒 | ||
| 刀片的切割距离 | 1.2mm | ||
| 样品台驱动范围 | X/Y: ±700μm Z: 600μm | ||
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