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XTU系列X荧光光谱测厚仪

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产品型号

品       牌

厂商性质其他

所  在  地苏州市

更新时间:2023-12-26 19:33:27浏览次数:56次

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经营模式:其他

商铺产品:99条

所在地区:江苏苏州市

联系人:吴先生

产品简介

XTU-4CX荧光光谱仪型号:XTU-4C测量面积:最小0.002mm²镀层分析:23层镀层24种元素仪器特点:可手动变焦仪器优势:同元素不同层分析仪器简介:XTU-4C是一款设计结构紧凑,模块精密化程度的镀层测厚仪,采用了下照式C型腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型

详细介绍

XTU-4C X荧光光谱仪

型号:XTU-4C


测量面积:最小0.002mm²

镀层分析:23层镀层24种元素

仪器特点:可手动变焦

仪器优势:同元素不同层分析


仪器简介:

XTU-4C是一款设计结构紧凑,模块精密化程度的镀层测厚仪,采用了下照式C型腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。

该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。


产品优势:


技术参数:

1. 元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)

2. 涂镀层分析范围:氯(Cl)/锂(Li)- 铀(U)

3. 厚度检出限:0.005μm

4. 成分检出限:1ppm

5. 最小测量直径0.2mm(最小测量面积0.03mm²)

6. 对焦距离:0-30mm

7. 样品腔尺寸:500mm*360mm*215mm

8. 仪器尺寸:550mm*480mm*470mm

9. 仪器重量:45KG

10. XY轴工作台移动范围:50mm*50mm

11. XY轴工作台承重:5KG


应用领域:


多元迭代EFP核心算法

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可精准分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用:不同层有相同元素,也可精准测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。


配置清单:


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