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D8 ADVANCE X- 射线衍射仪

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更新时间：2023-12-21 19:01:59浏览次数：72次

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布鲁克AXS公司全新的D8ADVANCEX射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光

详细介绍

布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过革命性的TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！

高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供保证！

的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率，而且大幅提高了设备的探测灵敏度。

技术指标：

Theta/theta 立式测角仪

2Theta角度范围：-110~168°

角度精度：0.0001度

Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管

探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器

仪器尺寸：1868x1300x1135mm

重量：770kg

应用

物相定性分析

结晶度及非晶相含量分析

结构精修及解析

物相定量分析

点阵参数精确测量

无标样定量分析

微观应变分析

晶粒尺寸分析

原位分析

残余应力

低角度介孔材料测量

织构及ODF分析

薄膜掠入射

薄膜反射率测量

小角散射

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