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理学X射线衍射仪

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产品型号Ultima IV

品       牌

厂商性质其他

所  在  地天津市

更新时间:2023-12-21 17:57:50浏览次数:52次

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经营模式:其他

商铺产品:73条

所在地区:天津天津市

产品简介

是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。

详细介绍

◤ 理学X射线衍射仪技术参数:

◣ 1. X射线发生器功率为3KW;
◣ 2. 测角仪为水平测角仪;
◣ 3. 测角仪步进下线为1/10000度;
◣ 4. 测角仪配程序式可变狭缝;
◣ 5. 高反射效率的石墨单色器;
◣ 6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror);
◣ 7. 小角散射测试组件;
◣ 8. 多用途薄膜测试组件;
◣ 9. 微区测试组件;
◣ 10. In-Plane测试组件;
◣ 11. 高速探测器D/teX-Ultra;
◣ 12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC;
◣ 13. 分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等。

◤ 理学X射线衍射仪主要特点:

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

◤理学X射线衍射仪 主要的应用:

◣ 1. 粉末样品的物相定性与定量分析;
◣ 2. 计算结晶化度、晶粒大小;
◣ 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变;
◣ 4. Rietveld结构分析;
◣ 5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度;
◣ 6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构;
◣ 7. 小角散射与纳米材料粒径分布;
◣ 8. 微区样品的分析。 


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