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半球发射率测量仪 AE1&RD1——美国D&S 产品说明: 产品型号:半球发射率测量仪 AE1&RD1——美国D&S产品特点: 半球发射率测量仪AE1 RD1是用于测量发射率的专用仪器。低温加热被测样品,仪器通过探测器接受样品材料表面辐射出来的红外能量后换算出发射率,根据设定的标准体发射率准参数,计算并读出被测样品发射率。可提供测量服务。 在线咨询
参数 | 详细内容 |
---|---|
读数 器 | D&S 微型数字伏特计,型号RD1 |
输 出: | 材料温度为25℃时,2.4 毫伏通常对应材料发射率为0.9 |
线 性 | 检测器输出和发射率成线性关系,精度为±0.01发射单位 |
测量时间 | 10s |
加热装置 | 加热被测样品,使其在与标准体温度相同的情况下被测量 |
样品温度 | 130华氏度,约为55℃ |
漂移 | 输出可能会随着环境而变化,但是在短时间测量内可以忽略不计 |
标准体 | 提供两个高发射率标准体和两个地发射率标准体,其中一套标准可用来测量时使用,另一套标准体备用并作为参比。 |
电源 | 100-240V/50-60Hz,12V直流输出 |
测量波长 | 3——30μm |
测量范围 | 0——1 |
测量精度 | ±0.01 |
被测样品尺寸 | Min Φ5.7cm (可选配Φ2.54cm样品探测器) |
外形尺寸 | 探测头Φ57X107mm,测量台 H46mm×宽105mm×D152mm |
标准配置 | AE1探测头,高发射率标定块和低发射率标定块各2个,发射率测量仪,电源线,CD教学视频、校准证书、操作手册、手提箱。 |
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