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美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪SMPS-3938

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产品简介

美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪SMPS-3938

详细介绍

美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪SMPS-3938

产品介绍:

TSI的扫描电迁移率粒径谱仪广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准。这一系统也经常用来使悬浮在液体中的颗粒尺寸的测量精度。美国国家标准与技术研究所（-NIST）使用一个TSID Ma尺寸为60nm和100nm的标准尺寸的参考材料。扫描电迁移率粒径谱仪是一个精确地粒径检测技术，没有假设颗粒的形状粒度分布而直接测量数浓度。该方法是独立的颗粒或流体的折射率，并具有高度的尺寸精度和测量重复性。

特点和优点

◎高分辨率数据：多达167个通道;

◎广泛的尺寸范围：从2.5nm到1000nm;

◎ISO15900:2009兼容;

◎快速测量：＜10秒扫描;

◎宽的浓度范围内，107particles/cm3;

◎的灵活性组件的设计;

◎无需电脑的操作，触摸屏控制;

◎易于安装与不安装工具和自动发现部件;

◎离散粒子测量：适用于多模样本;

◎独立的颗粒和流体的光学性质;

◎宽范围的系统的选择：水或丁醇计数器供选择；传统的或非放射性中和器的选择。