北京安洲科技有限公司
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SOC710CR高光谱文物成像系统目前文物鉴定的传统方法中很多是有损或微损的，需取样才能分析；而且，有损测试的分析结果只局限于测试点或取样点，而不能代表未测试部位的信息
SOC710CR高光谱文物成像系统
目前文物鉴定的传统方法中很多是有损或微损的，需取样才能分析；而且，有损测试的分析结果只局限于测试点或取样点，而不能代表未测试部位的信息。高光谱成像技术能同时提供待测物整体的图像和光谱信息，可以对目标物进行高光谱识别和分类；其具有快速测量、能进行精细分类与识别等优点，且对文物无损伤，在文物分析领域具有广阔的应用前景。
SOC710CR高光谱文物成像系统具有的内置推扫技术、双CCD可预览、一键式测量等特点，可提供实验室暗箱、实验室平台及显微测量等多种操作模式。后期光谱提取与特征提取等技术可上满足用户的需求，在文物保护、修复、真伪识别等方面具有重要作用。
| 400-1000nm 探测器1392*1040 内置式推扫 可直接显微成像 双CCD可预览 自动暗电流 自动曝光时间 可快速安装 |
※ 快速无损获取高光谱图像信息，数据真实可靠
※ 双CCD设计，直接预览测量区域，所见即所得
※ 内置式扫描，图像无畸变，自动扣除暗电流
※ 不仅可获取目标反射率，还可获取辐亮度值
※ 可自动连续测量，监测目标光谱动态变化
※ 软件自带数据标定、高光谱分类等多种功能
※ 软件实时分析，光谱提取、光谱分类与结果输出
※ 可满足暗箱系统-室内实验台-显微镜等多种使用条件
SOC710CR高光谱文物成像系统应用案例：
产地：美国
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