北京费恩科技有限公司
北京费恩科技有限公司
产品介绍FT测试系统的FT-N配置（噪声/响应参数的测量）FT测试系统FT-I配置（成像质量参数测量）FT测试系统的FT-S配置（光谱参数测量）红外焦平面阵列是热成像系统最重要的核心部件
产品介绍
FT测试系统的FT-N配置（噪声/响应参数的测量）
FT测试系统FT-I配置（成像质量参数测量）
FT测试系统的FT-S配置（光谱参数测量）
红外焦平面阵列是热成像系统最重要的核心部件。探测器电路（核心）的设计是热成像系统的关键部分。因为红外焦平面阵列的参数决定了热像仪系统的性能极限，红外焦平面技术或热像仪技术方面的专业人员必须精确地了解红外焦平面阵列参数方面的知识。因此，测量红外焦平面阵列性能的测量设备是研发红外热成像系统的关键。
FT是一个完备的测试系统，它产生精确控制时空分布的红外，辐射到红外焦平面的输入平面来控制被测红外焦平面；最后对被测红外焦平面阵列（或热像仪核心）进行表征所需的输出信号进行半自动分析。
该系统能够测量热像仪核心和红外焦平面阵列的所有重要参数（噪声/灵敏度、成像质量和光谱参数）。可测试不同光谱波段（LWIR或MWIR）、冷却或非冷却的探测器。FT系统可以在一系列版本中提供，并针对不同测试范围的热成像核心和红外焦平面阵列进行优化，还可以选择能够测试完整的热像仪的超扩展版本。
FT测量系统一个模块化的系统，可以方便快速地配置成三个半独立的测量工作站：FT-N，FT-I，和FT-S。
1.FT-N——噪声和响应参数的测量；
2.FT-I——成像质量参数的测量
3.FT-S——光谱参数测量。
产品参数
红外焦平面阵列的参数可分为三大类：
噪声/灵敏度参数：
1.标准噪声特性：NETD（高频时间噪声）、FPN（高频空间噪声）、不均匀性（低频空间噪声），
2.响应参数：SiTF，线性，动态范围，饱和水平，
3.高级噪声参数：3D噪声模型、NPSD、1/f噪声、坏像素数和坏像素定位，
4.D*（归一化探测率）和相关参数可选（需要知道FPA的积分时间）。
图像质量参数：
1.调制传递函数MTF，
2.能量损耗（PVF），
3.串扰。
光谱参数：
1. 相对光谱灵敏度（平均值、偏差、信号相关性）
FT测试系统可以以不同版本、不同测试能力和不同价格水平交付。
可使用下表所示的代码精确确定版本。
A | B | |
编号 | 测试能力 | 测试完整的热像仪 |
1 | 噪声/相应参数 | 否 |
2 | 成像参数 | 是 |
3 | 光谱参数 | |
4 | 噪声相应和成像参数 | |
5 | 所有参数 |
示例代码：
代码FT40–测量红外焦平面传感器/摄像机芯的噪声/响应和成像参数的系统。不能测试完整的热像仪。
代码FT52-测量红外焦平面传感器/摄像机核心的噪声/响应、成像和光谱参数的系统。能够测试完整的热像仪。
您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
纺织服装机械网 设计制作，未经允许翻录必究 .
请输入账号
请输入密码
请输验证码
