Inframet提供了低成本的非计算机化MIM测试系统，该系统基于更简单的DNCB非校准双色黑体、手动靶标滑块和有限的激光系统校轴工具构成。MIM的测试能力与MS系统相比有很多局限性，但校轴能力与MS系统相当。
对于制造商或维修站来说，他们需要简单、低成本工具来测试多传感器系统的调焦、分辨率、灵敏度和校轴误差，MIM系统可以满足客户需求。
MIM测试系统是一个模块化系统，主要由5部分组成：CDT离轴反射光管、DNCB色温黑体DCON控制器，TP2靶板，一套靶标。可选配计算机用于分析被测热像仪的数据。MIM测试系统可以看做是图像投影机构，她将位于平行光管焦平面的靶标投射出去，靶标由DNCB双色黑体辐射照亮。靶标需要是在TP2靶板中手动切换，但可选升级电动MRW8靶轮。DCON控制器通过改变DNCB黑体的温度来调节投影图像的热对比度。正、负热对比度均可实现。也可以调节近红外波段的光强。值得注意的是，DNSB是一个未经校准的双色黑体。用户可以调节发射端的温度和光强，但当用户只知道调整的电流比例而不知道温度/亮度的值时，此时调整的数值是相对值。
基础版本的MIM测试系统可完成以下测试：
1. 热像仪和可见光相机的无限远调焦
2. 测量热像仪的分辨率，相对灵敏度
3. 测量的可见光相机的分辨率和相对灵敏度
4. 检测热像仪和可见光相机之间的轴对准误差
测试能力可以选择性地扩展，以便同时测量热像仪和可见光相机的MTF、FOV、畸变、放大率以及可见光相机的MRC。
产品参数
MIM 测试系统的技术规格如下：
平行光管可选型号 (支持不同版本) CDT11100HR; CDT15150HR; CDT20200HR; CDT25250HR,CDT30200HR (部分案例中可采用更经济的SR级别光管 )
光管类型 | 离轴反射式 |
口径 | 110mm 到 300mm，取决于具体型号 |
焦距 | 1000mm 到 300mm，取决于具体型号 |
光谱范围 | 0.4-15 um |
空间分辨率 | 不低于 100 lp/mrad |
反射镜加工精度 | L/6在 630 nm P-V HR 级别 |
镀膜 | 保护铝膜 |
视场 | 1.3°到2.7°，取决于具体型号 |
工作温度 | 10ºC 到 35ºC |
尺寸 | 取决于具体型号，610 mm x140 mm x210 mm 到 2610x350x400 mm不等 |
重量 | 取决于具体型号， 7 kg 到 90 kg不等 |
色温黑体 |
类型 | 未校准，相对调制 |
发射面尺寸 | ≥ 35x35 mm |
发射率 | ≥0.95 |
温差范围 | -10ºC到+10ºC，相对于环境温度 |
光谱范围 | 基础配置：可见光 (可扩展至 VIS-NIR 至 VIS-SWIR) |
亮度范围 | 不超过 500 cd/m2 |
温度和亮度调节方式 | 手动调整，两个旋钮：温度和亮度 |
尺寸 | 100x110x130 mm |
重量 | 3.5 kg |
靶 标 |
靶标数量 | 三个 |
金属 USAF 1951 靶标 | 带孔金属基底板，3杆靶空间频率范围1.00-14.30lp/mm |
玻璃USAF1951 靶标 | 带不透明图案的玻璃基板，3杆靶空间频率范围1.00-57lp/mm |
校轴靶标 | 孔径：0.5mm（可选不同尺寸） |
其他参数 |
供电 | 220/110 VAC 50/60Hz |
工作温度 | +5°C 到+35°C |
重量 | 17 kg 到 100 kg不等，取决于具体型号 |
