青岛立高检测有限公司
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场发射透射电子显微镜-TEM厂家：日本电子株式会社型号：JEM-2100F技术参数：1.加速电压：200KV；信息分辨率：0.14nm；点分辨率：0.20nm；STEM分辨率：0.2nm；2.样品倾角：+/-40º；放大倍数：60-1000000；电子枪：Schottly场发射电子枪
场发射透射电子显微镜-TEM
厂家：日本电子株式会社
型号：JEM-2100F
技术参数：
1.加速电压：200KV；信息分辨率：0.14nm； 点分辨率： 0.20nm；STEM分辨率：0.2nm；
2.样品倾角：+/-40º；放大倍数：60-1000000；电子枪：Schottly 场发射电子枪。
3.高性能的TEM成像、STEM成像和纳米分析；
4.配备英国Oxford X-MAX能谱仪 。
应用范围：
1.应用于材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体、纳米技术等领域的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析；
2.各种材料微区化学成分的定性和半定量检测；
3.粉末、纳米粒子形态和粒度测定；
4.复合材料界面特性的研究。
表征项目：
可进行TEM形貌 ，HRTEM高分辨 ，选区电子衍射SAED, STEM-HADDF暗场像 ， EDX元素定量， Mapping元素分布 ， 点扫描、 线扫描 。
样品要求：
粉末、液体样都行；样品量：粉末样≥1mg ，液体样≥1ml 。
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