北京中智核安科技有限公司
北京中智核安科技有限公司
NaI（Tl)-Calibration闪烁探测器无源效率刻度软件
图1 软件界面 图2 软件计算结果
一、产品简介
γ探测器的效率刻度方法主要有两种，一是相对测量方法，二是无源效率刻度方法。在退役核设施放射性测量、放射性工作场所测量、核事故应急中污染物放射性快速测量、人体器官放射性测量、生物样品放射性快速测量、放射性废物非破坏性测量等领域，很难采用借助标准源的相对测量方法获得效率刻度因子。
无源效率刻度软件NaI-Calibration是用于NaI γ射线探测器无源效率刻度的产品，它采用数值方法计算γ光子的输运过程，在此基础上得到效率刻度因子，几何和材料建模能力强大，计算精度高，速度快，界面简单，使用方便。由于是采用理论计算方法，因此，对于复杂几何形状和成分的放射源都可以快速地获得效率刻度曲线。NaI-Calibration克服了相对测量方法的缺点，同时避免了标准源的使用和管理，极大地拓展了NaI探测器的适用范围，提高了NaI探测器的定量分析能力。
NaI-Calibration是在解决两个关键技术的基础上研制成功的NaI无源效率刻度软件，一是光子在探测器中的能量沉积计算，二是探测器中产光效率和光收集效率的表征方法。光子在探测器中的能量沉积部分具备一般的无源效率刻度软件的优点，即可视化建模功能，对于任意组分材料和任意屏蔽物，精密化计算能量沉积功能；探测器表征方面通过实验测量得到点源在不同位置的能量沉积，然后反演出探测器的产光效率和收集效率随能量变化曲线。NaI-Calibration经过了不同形状、不同活度的体源效率测量的考核。
二、NaI-Calibration的性能
三、中智核安科技有限公司提供的服务
您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
纺织服装机械网 设计制作，未经允许翻录必究 .
请输入账号
请输入密码
请输验证码
