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日立台式XRF镀层测厚仪 X-Strata980

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更新时间：2024-02-07 15:16:54浏览次数：27次

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中山利丰精密测量仪器有限公司

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产品简介

出色的精确性和长期的稳定性：●日立分析仪器生产的100瓦X射线管大大提高了灵敏度实现快速精确的分析；●高分辨半导体探测器完成简单快速的元素识别；●通过多个初级滤波器对全元素范围实现的分析效果；●日立分析仪器公司的低背景测量板，实现更低的检出下限

详细介绍

出色的精确性和长期的稳定性：

●日立分析仪器生产的100瓦X射线管大大提高了灵敏度实现快速精确的分析；

●高分辨半导体探测器完成简单快速的元素识别；

●通过多个初级滤波器对全元素范围实现的分析效果；

●日立分析仪器公司的低背景测量板，实现更低的检出下限。 详细资料请咨询客服！ 利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。 X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

X-Strata980 – 灵活、多元素、无损的材料分析

一款全面强大的X射线荧光分析仪，能够检测各种大小的样品

快速、精确分析固体、液体和粉末

程控台的大样品舱方便样品摆放和测量（可选）

集成电脑节省了台式仪器的空间

高分辨率检测器使检测下限降到

应用广泛，包括光电池、RoHS有害元素筛选和贵金属分析