薄膜测量仪ST4080-OSP
仪器简介：
标准模式
工业规格
自动调焦
防震台
自动的X-Y平台
技术参数：
活动面积：864 x 648㎛ / 86.4 x 64.8㎛
波长范围：420 ~640 nm
厚度测量范围：350Å~3㎛
*小光斑尺寸：1.35㎛, 0.135㎛
透镜旋转台：5X,50X
可测量层：1
样品台尺寸：200mmX200mm
Z轴可重复性：± 1㎛
Z轴自动调节结构：
Z direction Head Movement
Travel range : 50mm
Max. velocity : 50mm/s
主要特点：
非接触式，非破坏式
可测量亚微米光斑
实样监控
易操作界面
应用领域：
专用于测量PCB/PWB板的铜箔表面的OSP厚度。
HS13B-400/31 M10 JSV-1000 JSV-200H HE50 HS13B-200/31 HE20 HE10 HE5.0 HE3.0 HD13B-1500/30 HE2.0 HD13B-1000/31 HE1.0 HD13B-600/31 HE0.5 HE0.2 HE0.1 HF-100 HF-50 HF-20 HF-10 HF-05 HF-02 HD13B-400/31 HF-01 HD13B-200/31 HD12-1000/31 HD12.HD14-600/31 HD12.HD14-400/31 HD12.HD14-200/31 HS11-600/38 HS11-400/38 HS11-200/38 HD11-600/38 ZPS-500KN HD11-400/38 ZPS-200KN HD11-200/38 ZPS-100KN JR20-160 JR20-63 JR20-25A ZPS-50KN JR20-10-16A ZPS-30KN ZPS-20KN ZPS-10KN ZPS-5000N LR1-D803 LR1-D633
