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Surfix BF外置探头铁基基本型测厚仪膜厚仪膜厚计

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产品简介

Surfix BF外置探头铁基基本型测厚仪膜厚仪膜厚计

详细介绍

特点:
       1.德国PHYNIX公司制造
       2.碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
       3.同屏显示
       4.可测铁基体上涂镀层
       5.基体上涂层,量程1500μm
       6.精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
       7.有红外可接PC及打印机
技术参数：

测量范围	0-1500µm,0 - 60mils
误差	±(1µm+1%读数）
分辨率	0.1µm或小于读数的2%
显示	背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示
*基体小面积**	5mmX5mm
*基体小曲率**	凸面：1.5mm凹面：5mm
*基体小厚度**	F型：0.2mm,N型：50µm
校准	厂家校准，零校准，校准箔校准
数据接口	红外通讯,IrDA标准
环境温度/表面温度	0-50℃/60℃（可选配150℃）
电源	两节1.5伏五号碱性电池
仪器尺寸	137x66x23mm
符合标准	DIN，ISO，ASTM，BS