phoenix nanome|x 纳米焦点 X射线检测系统是超高分辨率的纳米焦点 X射线检测系统，设计用于检测半导体及SMT行业的高品质的组件和互连。 该系统具有性能和多功能性，可用于二维X射线检测，以及全三维计算机断层扫描(nano ct)。 有了新的 x|act 软件包， phoenix nanome|x是可选的系统，用以确保满足目前和未来的*要求。
phoenix nanome|x 纳米焦点 X射线检测系统
特色：
主要功能
顾客利益：
应用：
安装好的印刷电路板 处理器箱内倒装芯片焊点的纳米焦点X射线图像。 图像显示一个焊桥和几个开放的焊点。 焊点直径大约为 150 µm. | 半导体与其他电子元件 4000 个温度应力周期后 µBGA的nanoCT® 。 由于有0.5微米的体素尺寸，可以检测到8 到小于1微米的裂缝。 |
规格：
| 大管电压 | 180 千伏 |
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| 大功率 | 15 瓦 |
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| 细节检测能力 | 高达0.2微米 |
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| 小焦物距 | 0.3 毫米 |
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| 大体素分辨率（取决于物体大小） | < 1 µm |
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| 几何放大倍率（2D） | 高达1970倍 |
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| 几何放大倍率 (3D) | <300倍 |
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| 大目标尺寸(高 x 直径) | 680毫米 x 635毫米 / 27" x 25" |
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| 大物体重量 | 10 千克/ 22 磅 |
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| 图像链 | 200万像素的数字图像链 |
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| 操作 | 5轴的样本操作 |
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| 2维X射线成像 | 可以 |
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| 三维计算机断层扫描 | 可以（可选） |
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| 系统尺寸 | 1860 毫米 x 2020 毫米 x 1920 毫米 / 73.2” x 79.5” x 75.6” |
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| 系统重量 | 2600千克/ 5732 磅 |
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| 辐射安全 | - 全防辐射安全柜，按照德国ROV（附件2 nr. 3）和美国性能标准21 CFR 1020.40（机柜X射线系统）
- 辐射泄漏率: < 1.0 µSv/h从机柜壁的10厘米处测量 |
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附件：
CT 选项: 包括软件 datos|x、高精度旋转装置、重建与可视化工作站
质量|检查: 用于肉眼观察和人工检查结果的维修站软件来自于自动程序运行，如 bga|模块，qfp|模块或 vc|模块。
转换器：软件包转换结果文件，由质量|保证或x|act制作成其他格式，是第三方软件要求的。
质量|分析: 用于分析和肉眼观察检查结果的软件包，由自动程序收集，并由质量|检查检查。
菱形|窗口: 以同样的高图像质量水平进行快达2倍的数据采集
使用4MP影像链的4"图像增强器： 这种高分辨率的4"图像增强器影像链： 具有全数字读出和图像处理，是所有高品质phoenix| X射线二维系统的基本组成部分。 探测器适用于二维实时检测。
